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AFM Nanowizard II JPK Instruments

Spécifications techniques

Scanner :

XY = 100 x 100 µm²;
Z = 15 µm ;
Closed-loop.

et une diode laser λ_infra-rouge (850 nm).

Plusieurs modes :

Contact et contact intermittent ;
Spectroscopie de force ;
Spectroscopie de force longue distance (100 µm) ;
Cartographie de force ;
Nano-manipulation.

Autre équipement de microscopies AFM & STM

Multimode 8 Nanoscope V de Bruker

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