Spécifications techniques

Gammes de mesures :

  • IR lointain : 50-650 cm-1 ;
  • IR moyen : 400-4000 cm-1 ;
  • Proche IR : 4000-12000 cm-1.

Des options sont disponibles :

  • Accessoire de réflexion spéculaire à 45°, à angles variables ;
  • Accessoire de réflexion diffuse, microcellule pour travail en atmosphère contrôlée ;
  • ATR diamant ou Germanium (ATR : réflexion totale atténuée), ATR diamant avec plaque chauffante (jusqu’à 300°C), ATR diamant multi-réflexions (7) pour liquide, ATR à angle variable ;
  • Pastilleuse pour poudre ;
  • Polariseur infrarouge pour l’IR moyen (KRS-5) et l’IR lointain (polyéthylène).

Le Bruker Vertex 70 est associé au microscope Hypérion 2000 avec détecteur MCT 600-12000 cm-1 (pour une surface analysée de quelques dizaines de microns) :

  • Réflexion spéculaire normale (0°) ;
  • Transmission ;
  • Polariseurs visibles et infrarouges ;
  • Table XY micrométrique pour cartographie ;
  • Objectif micro ATR (cristal Ge) et objectif de réflexion spéculaire à angle rasant ;
  • Mesures en hautes et basses températures (micro-cryostat azote ; de -196 à 600°C).

En complément du Bruker Vertex 70, la plateforme PLASSMAT est dotée du Bruker IRTF ALPHA pour les analyses de routine.

Nos équipements de spectroscopies Raman

Raman visible dispersif : Jobin-Yvon T64000

Raman UV dispersif : Jobin-Yvon Labram HR
Raman à transformée de Fourier : Bruker MultiRam
Raman visible dédié à la cartographie : Renishaw InVia réflex

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