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Bruker Vertex 70

Spécifications techniques

Gammes de mesures :

IR lointain : 50-650 cm^-1;
IR moyen : 400-4000 cm^-1;
Proche IR : 4000-12000 cm^-1.

Des options sont disponibles :

Accessoire de réflexion spéculaire à 45°, à angles variables ;
Accessoire de réflexion diffuse, microcellule pour travail en atmosphère contrôlée ;
ATR diamant ou Germanium (ATR : réflexion totale atténuée), ATR diamant avec plaque chauffante (jusqu’à 300°C), ATR diamant multi-réflexions (7) pour liquide, ATR à angle variable ;
Pastilleuse pour poudre ;
Polariseur infrarouge pour l’IR moyen (KRS-5) et l’IR lointain (polyéthylène).

Le Bruker Vertex 70 est associé au microscope Hypérion 2000 avec détecteur MCT 600-12000 cm^-1 (pour une surface analysée de quelques dizaines de microns) :

Réflexion spéculaire normale (0°) ;
Transmission ;
Polariseurs visibles et infrarouges ;
Table XY micrométrique pour cartographie ;
Objectif micro ATR (cristal Ge) et objectif de réflexion spéculaire à angle rasant ;
Mesures en hautes et basses températures (micro-cryostat azote ; de -196 à 600°C).

En complément du Bruker Vertex 70, la plateforme PLASSMAT est dotée du Bruker IRTF ALPHA pour les analyses de routine.

Nos équipements de spectroscopies Raman

Raman visible dispersif : Jobin-Yvon T64000

Raman UV dispersif : Jobin-Yvon Labram HR

Raman à transformée de Fourier : Bruker MultiRam

Raman visible dédié à la cartographie : Renishaw InVia réflex

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