Kratos Axis Ultra

Tout type d’échantillon allant sous vide (sauf matériaux radioactifs) : poudres, monocristaux, métaux, oxydes, polymères, etc. ;
Surface du porte échantillon : 2 cm X 7 cm ;
Surface analysée : 700 microns x 300 microns ;
Résolution ultime sur conducteurs : 0.28 eV et résolution ultime sur isolants : 0.68 eV ;
Possibilité de faire des manipulations en température : de -150°C à +600°C ;
Possibilité de faire des analyses sous irradiation laser ;
Possibilité d’analyser des échantillons sensibles à l’air grâce à une valise de transfert sous gaz neutre entre la boîte à gant et l’XPS.

Kratos Nova

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