Kratos Nova

Tout type d’échantillon allant sous vide (sauf matériaux radioactifs) : poudres, monocristaux, métaux, oxydes, polymères, etc. ;
Surface du porte échantillon de 10 cm x 10 cm permettant d’analyser de nombreux échantillons ;
Surface analysée entre 700 microns x 300 microns et 27 microns x 27 microns ;
Résolution ultime sur conducteurs 0.26 eV et résolution ultime sur isolants 0.68 eV ;
Possibilité d’analyser des échantillons sensibles à l’air grâce à une valise de transfert sous gaz neutre entre la boîte à gant et l’XPS ;
Option : profil en érosion Argon mono atomique entre 500 V et 4 kV.

Kratos Axis Ultra

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