Accueil > Techniques et équipements > Microscopie MEB & FIB > JEOL JSM 5800LV
Ce microscope à balayage est équipé d’un spectromètre en dispersion d’énergie SDD SAMx. Cet appareil est dédié principalement à l’analyse chimique quantitative mais aussi à tous travaux d’analyse chimique (cartographie X, profils en concentration, analyse semi-quantitative) et à l’imagerie de routine. Un détecteur spécifique permet d’obtenir des images en cathodoluminescence. Ce microscope est également capable de travailler en mode « vide partiel ».
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