Ce microscope a une tension d’accélération de 300 kV et une géométrie de pièce polaire qui lui confèrent une résolution ponctuelle de 0,18 nm.
Il est équipé d’un porte-objet double-tilt (+-15°) pour orienter les grains avant l’acquisition des images en haute résolution (MET uniquement) ou obtenir des clichés de diffraction électronique en axe de zone.
Un détecteur EDX Si(Li) permet de réaliser des analyses élémentaires semi-quantitatives.
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