Spécifications techniques

Ce microscope à balayage est principalement utilisé pour les images et analyses de routine. La source d’électrons utilisée est un filament tungstène dans un cylindre de Wehnelt pour focaliser et contrôler le faisceau d’électrons.

Résolution

3.5 nm à 30 kV à la distance de travail optimale

Tension d’accélération

0,2kV à 30 kV

Courant de sonde

10 pA à 1000 nA

Grandissement

X9 à x 900 000 par rapport à une référence Polaroid

Distance de travail

de 0,1 mm à 50 mm

Dimensions de la chambre 

300 mm x 270 mm x 224 mm (H)

Course platine (5 axes)

X/Y = 100/125 mm

Z = 60 mm (35 mm motorisé)

T = 0° à +90°

rotation continue 360°

Pression variable

1Pa à 400 Pa

Poids maximal échantillon

500 g

Le Leo 1450VP dispose de trois détecteurs pour imagerie :

Nom détecteur

SE1

BSE

VPSE

Type électrons

Secondaires

Rétro-diffusés

Secondaires

Particularités

Approprié pour grandissement faible ;

Non adapté pour faibles WD ;
Peu sensible à la pollution carbonée de surface

Dispose d’un réglage de gain en complément de la brillance et du contraste ;

Nécessite souvent un courant plus important et/ou une vitesse de balayage plus faible que les deux autres

Approprié pour échantillons isolants ou sensibles au vide ou hydratés

Le Leo 1450VP dispose d’une sonde EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometer, ou Spectromètre de rayons X à dispersion d’énergie) présentant les caractéristiques suivantes :

  • Cristal Silicon Drift 80 mm² nominal en surface active ;

  • Fenêtre éléments légers SATW pour la détection des éléments du beryllium jusqu’à l’uranium.

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